{"id":59462,"date":"2025-02-19T13:45:33","date_gmt":"2025-02-19T12:45:33","guid":{"rendered":"https:\/\/ticker-noticiasep.microcontenidos.com\/NoticiaRSS.vbhtml?user=FRND562DLP&cod=20250219134533"},"modified":"2025-02-19T13:45:33","modified_gmt":"2025-02-19T12:45:33","slug":"mundo-park-systems-amplia-la-linea-de-afm-de-muestras-grandes-fx","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/webciudadana.net\/?p=59462","title":{"rendered":"Mundo: Park Systems ampl\u00eda la l\u00ednea de AFM de muestras grandes FX"},"content":{"rendered":"\n
<\/div>\n

(Informaci\u00f3n remitida por la empresa firmante)<\/p>\n

\n— Park Systems ampl\u00eda la l\u00ednea de AFM de muestras grandes FX para impulsar la innovaci\u00f3n industrial de pr\u00f3xima generaci\u00f3n<\/p>\n

\nSE\u00daL, Corea del Sur, 19 de febrero de 2025 \/PRNewswire\/ — Park Systems, l\u00edder mundial en microscop\u00eda de fuerza at\u00f3mica (AFM), ha presentado una serie ampliada de AFM FX para muestras grandes en SEMICON Korea 2025. Bas\u00e1ndose en el \u00e9xito de Park FX200, que debut\u00f3 en SEMICON West 2024 y desde entonces ha ganado una fuerte tracci\u00f3n en el mercado en Alemania, Jap\u00f3n y Corea, Park Systems presenta Park FX300 para an\u00e1lisis de obleas de 300 mm, junto con Park FX200 IR y FX300 IR, que integran espectroscop\u00eda infrarroja (IR), ampliando los l\u00edmites de la tecnolog\u00eda AFM para muestras grandes.<\/p>\n

A medida que las obleas de 300 mm se convierten en el est\u00e1ndar de la industria de semiconductores, el Park FX300 est\u00e1 dise\u00f1ado para quienes buscan un an\u00e1lisis de alta precisi\u00f3n sin la complejidad de un sistema en l\u00ednea completamente automatizado. Tambi\u00e9n sirve como una soluci\u00f3n ideal para las empresas que est\u00e1n considerando la implementaci\u00f3n de AFM antes de realizar la transici\u00f3n a la fabricaci\u00f3n en l\u00ednea.<\/p>\n

Optimizado tanto para aplicaciones industriales como de investigaci\u00f3n, se espera que el Park FX300 sea un elemento innovador, ofreciendo capacidades avanzadas para el an\u00e1lisis y el control de calidad en una amplia gama de t\u00e9cnicas de AFM. Est\u00e1 equipado con caracter\u00edsticas especializadas, como una platina deslizante para mediciones de planitud de largo alcance de almohadillas de cobre en el posprocesamiento de semiconductores, una platina de rotaci\u00f3n para la alineaci\u00f3n precisa de la muestra en el empaquetado a nivel de oblea y un sistema de \u00f3ptica fuera de eje para una mejor visualizaci\u00f3n de la muestra. Adem\u00e1s, su unidad de filtro de ventilador (FFU) garantiza un entorno controlado y libre de contaminaci\u00f3n, lo que lo hace ideal para aplicaciones de sala limpia.<\/p>\n

Park Systems tambi\u00e9n ha presentado FX200 IR y FX300 IR, ampliando su tecnolog\u00eda AFM al \u00e1mbito del an\u00e1lisis qu\u00edmico a nanoescala. Al integrar la espectroscopia infrarroja por transformada de Fourier (FTIR) con AFM, estos modelos utilizan la microscop\u00eda de fuerza fotoinducida (PiFM) para permitir la identificaci\u00f3n qu\u00edmica con una resoluci\u00f3n espacial inferior a 5 nm. Este avance permite a los investigadores e ingenieros analizar la composici\u00f3n qu\u00edmica de las estructuras a nanoescala sin da\u00f1ar las superficies de las obleas, lo que abre nuevas posibilidades para la caracterizaci\u00f3n de materiales en aplicaciones de semiconductores, pol\u00edmeros y ciencias de la vida.<\/p>\n

Dise\u00f1ados para muestras que van desde tama\u00f1os peque\u00f1os hasta obleas de 200 mm o 300 mm, los FX200 IR y FX300 IR permiten obtener im\u00e1genes espectrales infrarrojas de alta resoluci\u00f3n, lo que proporciona informaci\u00f3n sin precedentes sobre la composici\u00f3n del material y las interacciones moleculares. Con su capacidad para capturar informaci\u00f3n sobre enlaces qu\u00edmicos a una escala ultrafina, mejora el an\u00e1lisis de defectos de semiconductores, la investigaci\u00f3n de pol\u00edmeros y la caracterizaci\u00f3n avanzada de materiales con una precisi\u00f3n inigualable.<\/p>\n

Basada en la filosof\u00eda de Park Systems de maximizar la eficiencia y minimizar la intervenci\u00f3n manual, la serie FX Large Sample AFM mejora la usabilidad con reconocimiento e intercambio automatizados de sondas, un sistema de c\u00f3digo QR para monitorear el estado de las sondas y alineaci\u00f3n l\u00e1ser impulsada por IA para un funcionamiento perfecto. La funci\u00f3n StepScan\u2122 aumenta a\u00fan m\u00e1s la eficiencia al permitir mediciones secuenciales automatizadas en coordenadas predefinidas, lo que permite a los investigadores analizar la topograf\u00eda, las propiedades el\u00e9ctricas, mec\u00e1nicas y magn\u00e9ticas con una m\u00ednima intervenci\u00f3n manual. Especialmente en aplicaciones de infrarrojos, donde la alineaci\u00f3n l\u00e1ser suele ser un desaf\u00edo importante, los sistemas automatizan completamente el proceso, lo que hace que el an\u00e1lisis qu\u00edmico de alta resoluci\u00f3n sea m\u00e1s accesible que nunca.<\/p>\n

El doctor Sang-Joon Cho, vicepresidente ejecutivo de Park Systems, destac\u00f3 el compromiso de la empresa con el liderazgo tecnol\u00f3gico: \u00abAl incorporar las d\u00e9cadas de experiencia e innovaci\u00f3n de Park Systems en medici\u00f3n de precisi\u00f3n y automatizaci\u00f3n, hemos optimizado la serie FX Large Sample AFM para el an\u00e1lisis de obleas al m\u00e1s alto nivel tanto para los campos industriales como de investigaci\u00f3n. Park FX300 y los sistemas nano-IR est\u00e1n redefiniendo los l\u00edmites entre las aplicaciones AFM industriales y de investigaci\u00f3n, y proporcionan a nuestros clientes el AFM m\u00e1s avanzado disponible, dando forma juntos al futuro de la nanociencia\u00bb.<\/p>\n

Con sus \u00faltimas innovaciones, Park Systems contin\u00faa consolidando su posici\u00f3n como l\u00edder mundial en microscop\u00eda de fuerza at\u00f3mica, brindando soluciones l\u00edderes en la industria para las demandas en constante evoluci\u00f3n de la investigaci\u00f3n en semiconductores y nanociencia.<\/p>\n

Acerca de Park Systems Corp. (KOSDAQ: 140860) <\/p>\n

\nPark Systems Corp., pionera y l\u00edder en soluciones de nanometrolog\u00eda con la fabricaci\u00f3n de microscopios de fuerza at\u00f3mica (AFM) de la m\u00e1s alta calidad, se ha distinguido a\u00fan m\u00e1s de sus competidores de la industria por su compromiso incomparable de cultivar y fomentar relaciones profesionales heredadas con investigadores e ingenieros de todos los campos cient\u00edficos y en diversas disciplinas, incluidas la ciencia de los materiales, la f\u00edsica, la qu\u00edmica, las ciencias biol\u00f3gicas, los semiconductores y el almacenamiento de datos. La misi\u00f3n de la empresa es impulsar innovaciones a escala nanom\u00e9trica para cient\u00edficos e ingenieros y promover descubrimientos cient\u00edficos. Entre los clientes de Park Systems se incluyen las principales empresas de semiconductores y universidades de investigaci\u00f3n de todo el mundo. Con sede en Suwon, Corea, y oficinas regionales en Am\u00e9rica, Europa y Asia, Park Systems cotiza en la Bolsa de Valores de Corea (KOSDAQ). Obtenga m\u00e1s informaci\u00f3n en www.parksystems.com.<\/p>\n

Foto – https:\/\/mma.prnewswire.com\/media\/2622432\/FX_Large_Sample_Series_New_Park_Systems_Corp.jpg<\/p>\n

\nLogo — https:\/\/mma.prnewswire.com\/media\/490994\/Park_Systems_Logo.jpg<\/p>\n

View original content:https:\/\/www.prnewswire.com\/news-releases\/park-systems-amplia-la-linea-de-afm-de-muestras-grandes-fx-302380199.html<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

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